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来源:《材料导报》2007年第04期  作者:刘云杰;郝兰众;李燕;邓宏;
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LaAlO_3顶层结构对LaAlO_3-BaTiO_3铁电超晶格薄膜性能的影响

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X射线衍射技术分析发现,通过生长一层较厚的LaAlO3顶层结构,可以把LaAlO3-BaTiO3超晶格中界面处的应变有效地控制在薄膜中,从而增加超晶格薄膜的平均面外晶格常数c。电学性能测试证明LaAlO3顶层结构的存在极大地改善了超晶格薄膜的电学性能,使其剩余极化强度增加了40多倍。(本文共计2页)......[继续阅读本文]

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