来源:《电子工业专用设备》2014年第08期  作者:张雄刚;李会峰;霍军军;
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基于FPGA的频率测试系统

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传统ATE比较昂贵,功率大耗电多,造成IC的测试成本偏高,针对ATE的不足之处,设计制作FPGA模块的频率测试系统,包括FPGA测试系统的组成模块,测试原理和测试方法,以及与Handler的通信设计。该测试系统占用空间小,耗电少,测试成本低,达到了节能降耗,降低测试成本的目的。(本文共计3页)......[继续阅读本文]

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