来源:《电子科技文摘》2000年第12期  作者:
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绝缘与介电材料

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Y2000-62040-928 0019785特性化1(含3篇文章)=Session TC4:characterization I[会,英]//Proceedings of 16th IEEE Instrumentationand Measurement Technology Conference.Vol.2.-928~945(F)本部分收录3篇文章。题目是:用于轨道运行、运载器和其他条件中多种重力环境估计的比较工具,受伤元件近场特性化用的测量基准,绝缘材料的介电常数横断成象特性化和部分放电现象之间的关系。(本文共计1页)......[继续阅读本文]

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