来源:《电子科技文摘》2000年第12期  作者:
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生产过程控制及其系统

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SPIE-Vol.3589 00213501999年 SPIE 会议录,卷3589:制造过程控制与传感器(2)=1999 proceedings of SPIE,Vol.3589:processcontrol and sensors for manufacturingⅡ[会,英]/SPIE-the International Society for Optical Engineering.—1999.—180P.(PC)本会议录收集了于1999年3月3~4日在美国加州新海岸召开的制造过程控制与传感器专题讨论会上发表的20篇论文。内容主要涉及各种传感器与过程监测。0021351单机调度中平均流程时间和延期工件数的双目标问题(本文共计1页)......[继续阅读本文]

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