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来源:《福建电脑》2008年第09期  作者:吴惠民;张文娟;梁晓明;
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组合逻辑中软误差的评估和改进措施

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本文主要目的是对组合逻辑电路中的软误差发生率进行评估,介绍了评估的各个阶段采用的模型,主要包括:电屏蔽模型、锁存窗口屏蔽模型等。使用这些模型和方法可以计算组合逻辑中软误差的发生率。最后简单介绍了组合逻辑电路软误差的改进措施。(本文共计3页)......[继续阅读本文]

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