来源:《分析试验室》2006年第07期  作者:刘红;赵春华;刘英;
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高纯二氧化锗中痕量杂质的ICP-MS法测定

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建立了高纯二氧化锗中痕量杂质Mg、Al、Ni、Cu、Zn、In、Pb的ICP-MS测定方法。选择了仪器最佳工作条件,研究了锗基体对被测元素的干扰,方法回收率为94%~114%,RSD为11.1%~57%。(本文共计3页)......[继续阅读本文]

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