来源:《电子设计工程》2011年第16期  作者:王泽民;李静;雷志勇;
选择字号

CCD立靶操作误差的改善方法研究

收藏本文  分享

CCD立靶在应用中,光幕对准与靶距测量等都是现场布靶时人工操作完成,传统的设备和方法精度较差,影响了系统的测量精度。通过研究操作不慎对测量精度的影响,将操作误差转化为CCD对弹丸成像位置的偏差,推导了带有偏差的成像位置计算公式,针对光幕对准与靶距测量问题提出了激光测距仪双向对准靠平测距法,试验结果表明,采用该方法后系统的测量误差最大值由7 mm降低到了4 mm以内,测量精度得到了显著提高。(本文共计3页)......[继续阅读本文]

下载阅读本文订阅本刊

图书推荐

    相关文章推荐

    看看这些杂志对你有没有帮助...

    更多杂志>>