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来源:《光学学报》1988年第01期  作者:孙海音,梁培辉,沃敏政
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用光电二极管列阵测干涉条纹周期的精度分析

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分析了用1024单元的光电二极管列阵测量干涉条纹周期时,采样密度对测量精度的影响.采样数据的量化为256,每个干涉条纹的采样点数从10至30左右时,测量精度最高,可优于2×10~(-5).量化小时,最佳采样密度变小.(本文共计7页)......[继续阅读本文]

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