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来源:《河南科技》2015年第08期  作者:代清平;
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聚变等离子体中的离散阿尔芬波本征模

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聚变等离子体中存在负磁剪切的情况下,研究发现在α(α=-q2Rdβ/dr,q是安全因子,β是等离子体压力与磁压力之比,R和r分别代表托卡马克的大半径和小半径)引起的第二个势井里面存在αTAEs(α-induced Alfvén eigenmodes)。这些模式是一种很危险的本征模,容易被激发从而破坏聚变等离子体的稳定状态。对该本征模的研究,为该领域的研究提供了一些参考。(本文共计3页)......[继续阅读本文]

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