来源:《红外与激光技术》1988年第02期  作者:龚琰民;
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HgZnTe体晶的生长及其特性

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利用移动加热器法(THM)生长了体晶Hg_(1-x)Zn_xTe,对应于10μm探测波长的x=0.15的体晶,其纵向均匀性为±0.02克分子,材料的硬度高于(Hg,Cd)Te,显示出有较高的结合强度。测定的主要几个光电子参数与(Hg,Cd)Te的接近。(本文共计6页)......[继续阅读本文]

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