来源:《激光与光电子学进展》1991年第09期  作者:林万凤;
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用激光干涉显微镜检查半导体薄膜结构

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近来人们很重视半导体薄膜结构在光学激励下的非线性现象研究。双稳态反射镜与反射镜(衬底)光学接触形成的半导体薄膜结构是当前紧迫的研究课题之一。平行CaSe单晶薄膜的双稳反射镜呈现明显的非线性特性,可将它们用于各种光电装置。包括再现性在内的双稳态物理技术特性,基本上决定于光学接触的质量和状态。在实验(本文共计2页)......[继续阅读本文]

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