来源:《激光与光电子学进展》1999年第S1期  作者:杨建伦,王根兴,温树槐,朱启华,刘忠礼,唐正元,杨洪琼,郭玉芝
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用于超快脉冲中子测量的条纹像机系统

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为了测量ICF内爆实验聚变反应的时间过程,建立了计算机MonteCarlo光线追迹程序进行光学辅助设计,研制了主要由BC422塑料闪烁体、消色差透镜组、皮秒条纹像机和制冷增强CCD组成的超快脉冲中子探测系统,其时间响应<40ps。闪烁体与靶丸的最短距离可达2cm,测量下限中子产额为~108。(本文共计4页)......[继续阅读本文]

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