来源:《计算机学报》1986年第03期  作者:闵应骅
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一种容易产生测试的可编程序逻辑阵列

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某些大型电路的测试产生可能是非常困难的。本文定义一种容易产生测试的可编程序逻辑阵列(ETG PLA),它不需要单独的测试产生手续,只要在测试时实时地产生测试,就可以查出所有单故障和同一阵列、相同模式的多故障。本文给出的方法,将一个PLA适当增加一些乘积线和输出线就可变成ETG PLA。(本文共计8页)......[继续阅读本文]

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