来源:《计算机与应用化学》2010年第10期  作者:周猛飞;蔡亦军;谢磊;王树青;
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双层结构PID控制器性能评估研究

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针对工业过程常规PID控制回路普遍存在性能退化的现状,提出了1种基于双层结构的PID控制器性能评估方法,该方法可综合地评估PID控制器的性能。其中第1层次的评估只需最少量的过程信息,即采用最小方差基准和脉冲响应曲线方法对PID控制器的随机性性能和确定性性能两方面给出初步的评估。第2层次是基于PID结构的控制器性能评估,这个层次的评估更符合生产实际,但需要用到更多的过程知识和信息。最后将所提出的方法分别应用于仿真过程和工业实际过程。(本文共计4页)......[继续阅读本文]

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