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来源:《绝缘材料》2002年第05期  作者:杨志远
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铝质电瓷断口分形研究与分维测量

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利用 SEM和反光显微镜研究铝质电瓷断口分形特征 ,采用改进小岛法测量断口分维值 ,结果表明 :电瓷断口具统计意义分形 ,不同放大倍数测得断口分维值不同。分维值与电瓷强度的关系为低倍数下呈负相关 ,高倍数下呈正相关。分维值受图像灰度阀值、测量方法影响。(本文共计3页)......[继续阅读本文]

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