来源:《计算机测量与控制》2012年第02期  作者:雷加;黄文君;
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紧凑型边界扫描技术的功能与现状

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芯片一体化进程的加剧以及对功耗控制的关注日益增加,边界扫描技术面临新的挑战,这些挑战来源于调试、应用、测试等方面,紧凑型边界扫描技术对此提出了有效的解决方法;以IEEE1149.7标准以及国内外文献报道为依据,对精简引脚与增强功能边界扫描技术的测试规范进行系统的分析,重点对该技术的新功能、新特性和新应用进行详细介绍;针对符合IEEE1149.1标准的测试系统与被测系统如何升级以实现IEEE1149.7标准新功能的问题提出了相应的建议;最后总结了该技术的发展方向和应用前景。(本文共计4页)......[继续阅读本文]

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