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来源:《矿物学报》2015年第S1期  作者:吴伟男;刘希军;时毓;闫海忠;谭森;
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利用XRF对地质样品进行压片法与熔片法对比研究

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上世纪60年代开始利用X射线荧光光谱仪(X-Ray Fluorescence Spectrometer,简称XRF)对自然岩石样品进行主量元素及部分微量元素成分的测试。Brown等(1973)在英国利物浦大学地质实验室对美国地质调查局标样(USGS standard)G-1,W-1等进行了测试,对比其它实验室溶液法测试得到的数据,XRF测试数据质量较高;Thomas和Haukka(1978)在澳大利亚墨尔本大学地质实验室利用XRF(本文共计2页)......[继续阅读本文]

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