您的位置:杂志 > 《物理实验》 > 1997年 > 第04期
来源:《物理实验》1997年第04期  作者:路峻岭
选择字号

自准法测薄透镜焦距实验中的干扰像

收藏本文  分享

自准法测凸凹薄透镜焦距的光路图如下.该方法简单易行,物理图象清晰,不失为薄透镜焦距测量的好方法.原则上,作反光用的平面镜M和待测透镜之间的距离不大影响成像的清晰度,但平面镜过远会因反射成像时对其法线方向要求变严而使成像变暗.因此,一般认为为使成像亮度较高,测凹透镜焦距时,应尽量使平面镜M高物屏P近一些,凸透镜L;高物屏P的距离以凸透镜焦距的2倍为宜.实验表明这种选法可能会在物屏P上出现干扰像,即不是经平面镜M反射的光形成的等大倒立的实像,结果使约15%的学生产生错误测量.即使是自准法测凸透镜焦距,也往往因干扰像而出现错误测量.干扰像是怎样产生的呢?它既然不是由M反射的光形成,必定是其它光学表面反射的光形成.例如,自准法测凸透镜焦距实验中,见图a,设L;为对称双凸透镜,其前后表面向率半径均为R,L;的前表面为凸球面,该面反射的光不可能在物屏P上形成实像;而经L;后表面(凹面镜)的反射光束会在镜前会聚成像.此时,由于成像光束两次穿过L;,且一次被透镜后表面反射,故对成像光束说来,它经历了三次会聚成像过程,透镜等效为一凹面镜.此等效凹面镜的光焦度等于两个凸透镜及一个四面镜光焦度之和’“.设此(本文共计2页)......[继续阅读本文]

下载阅读本文订阅本刊

图书推荐

    相关文章推荐

    看看这些杂志对你有没有帮助...

    更多杂志>>