来源:《仪器仪表学报》2002年第S3期  作者:杨勇,乔辉,方志良,母国光
选择字号

一种集成芯片引脚外观检测系统的研究

收藏本文  分享

大尺寸集成芯片引脚外观检测一直是电子集成电路器件生产线上的一个重要环节 ,目前尚无较成熟的自动检测设备 ,在此介绍一种针对 40脚以上集成芯片引脚外观的光电自动检测系统 ,其可以实现引脚的内外倾角、左右倾角和横向尺寸的检测 ,采用亚像素细分的方法 ,使长度测量分辨率达到四十分之一像素。(本文共计3页)......[继续阅读本文]

下载阅读本文订阅本刊

图书推荐

    相关文章推荐

    看看这些杂志对你有没有帮助...

    更多杂志>>