来源:《仪器仪表学报》2002年第S3期  作者:徐红兵,李焱骏,王厚军
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一种基于混沌神经网络的自动测试生成算法

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阐述了一种基于混沌神经网络的自动测试生成 (ATPG)算法。由神经元构成的双向神经网络来表示组合电路 ,神经元的阈值和神经元之间的连接权值则代表了电路的功能。给电路注入故障后 ,网络中的神经元的状态在满足测试序列的时候 ,神经网络的能量函数具有全局最小点。采用具有衰减步长的混沌模拟退火 (CSA)算法来找到能量函数的最小点 ,实现了组合电路的自动测试生成。计算机仿真表明了算法的可行性。(本文共计3页)......[继续阅读本文]

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