来源:《仪器仪表学报》2002年第S3期  作者:潘光斌
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基于频谱仪的相位噪声测试及不确定度分析

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对基于频谱分析仪的相位噪声测试原理和方法进行了介绍 ,并对引起测试系统不确定度的因素及其评定方法进行了讨论。(本文共计3页)......[继续阅读本文]

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