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来源:《有色矿冶》1988年第05期  作者:张金生,邱竹贤
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铝电解质各组份光学性质及显微结构的分析

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本文采用晶体光学法,在偏光显微镜下系统研究了铝电解质各纯组份:NaF、AlF_8、Na_3AlF_6、Al_2O_3、LiF、MgF_2、CaF_2、Na_5Al_3F_(14)的光学性质及显微特性,并论讨了晶体光学法进行铝电解质综合分析鉴定的基本程序。(本文共计5页)......[继续阅读本文]

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