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来源:《北方钒钛》2010年第02期  作者:王文德;张国杰;豆长宏;孙艳红;
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ICP——AES测定V_2O_5中杂质元素

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采用电感耦合等离子体发射光谱法测定V_2O_5中杂质元素;和传统的化学方法做比较(ICP—AES)[1-2]能同时测定多种元素,方法简便、快接、精密度和准确度高、且具有节能减耗等优点。本文研究了样品的处理、标准样品的溶解及曲线的配制、分析线的选择和干扰的消除、并采用和机体匹配的方法消除机体影响,进行了标准样品的分析、对照、精密度和RSD等实验,均取得了满意的结果。(本文共计2页)

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