来源:《稀有金属材料与工程》1986年第05期  作者:喻永进
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应用微计算机的全极图测定数据处理系统——APPLEⅡ微机外围设备接口的研制

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本文介绍在X射线衍射仪上应用微型计算机测定全极图数据处理的系统,叙述了APPLEⅡ输入输出接口的研制,对全极图测定过程及BASIC语言程序作了扼要的分析。(本文共计5页)......[继续阅读本文]

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