来源:《电子设计技术》1998年第10期  作者:Joel M. Goldberg;
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测试与仪器

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通常,我们不可能使用标准的环境试验室或环境试验机械手来测试各种最新的半导体器件。环境试验室不可能快速改变温度,而小型机械手对于ASIC或MCM组件又显得力不从心。如果产量不大,即一月不到1000件,由于工装成本高和安装时间长,采用机械手也是不现实的。(本文共计3页)......[继续阅读本文]

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