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98美国质量设备展回顾①

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于1998年4月21日至23日在美国芝加哥举办的98质量设备展同往届相比,虽说规模较小,但仍可谓是一次充满商机的成功商展。它表明美国经济仍沿着健康的方向发展着,计量工业领域的发展状况也较为理想.·非接触扫描测量uawr公司推出了一种新型的Qualityvtsto非接触质量检测设备.该设备采用了一种使用显微测焦传感器的动态调焦系统,可用于柔软、敏感材料表面的宏观和微观结构检验,并可对包括轴承表面、MEMS零件、隐形眼镜、纸张、厚膜材料、任何金属制品、硅、表皮等在内的所有材料进行亚微米级的测量。QualityVisionary的测量范围为lmm.精度为0.01μm,可进行轮廓、表面粗糙度、平面度、波度及厚度等的非接触测量。Cyberscan公司则推出了另外一种非接触3D扫描系统──Vantage。该系统采用了一种基于激光技术的检测系统,可对测量对象进行3D扫描,生成分辨率为亚微米的垂直面内的轮廓图.系统在垂直方向上的分辨率可达0.125μm,X及Y向上的行程为6英寸,步进尺寸可达1μm.OGTechnology公司则展出了一种采用了零件平面度测量新技术的OG2000测量系统。该系统可在1m......[继续阅读本文]

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