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来源:《红外技术》2018年第09期  作者:彭曼泽;丛树仁;郭沁怡;严顺英;俞见云;李培源;杨春章;李艳辉;王燕;田立萍;孔金丞;李东升;杨玉林;
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基于双层模型外延HgCdTe薄膜的霍尔测试

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采用Petritz双层薄膜结构模型,用化学腐蚀的方法分离MBE外延双色HgCdTe薄膜,测试并验证了双层模型对中短双色MBE外延HgCdTe薄膜中各层的霍尔参数计算的有效性,给出了测量不确定度评定以及相对误差。实验表明,MBE外延双层HgCdTe薄膜中的中波薄膜层电导率及霍尔系数的扩展不确定度范围分别为0.33~0.41W·cm和61~113cm3/C,置信概率为95%,与对比样品的中波膜层霍尔参数相比,载流子浓度及霍尔迁移率的相对误差分别小于20%和10%。(本文共计6页)......[继续阅读本文]

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