来源:《江苏教育学院学报(自然科学版)》2013年第04期  作者:秦磊;范毅杰;宫恋;于纪烨;戴俊;
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SnO_2纳米线制备及缺陷态发光研究

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利用气相传输法制备二氧化锡纳米线,通过X射线衍射(XRD)和扫描电子显微镜(SEM)及高分辨透射电子显微镜(TEM)对产物晶体结构、形貌和微结构进行了表征.该样品荧光光谱中主要包含两个发光带,分别位于360 nm及445 nm.X射线光电子能谱(XPS)结果显示该纳米结构产生的蓝色缺陷态辐射主要源于氧空位产生的缺陷态深能级.(本文共计4页)......[继续阅读本文]

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