无损探伤

2019年06期

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220kVGIS用花键轴质量检测方法研究

王建伟;马博;王光明;杜攀峰;郭锐

通过理化分析找出220kVGIS用Φ30直径40Cr13花键轴开裂原因,使用超声波检测(UT)、相控阵超声检测(PA)、X射线探伤(RT)、渗透检测(PT)方法对花键轴进行了检测,并对4种检测方法的检测结果进行汇总、对比和分析。结果表明:UT和PA采用实物工件进行灵敏度校验的方法对Φ30直径40Cr13花键轴内部缺陷的定位和定量切实有效且结果一致。 (共3页)
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