无损探伤

2020年01期

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RT3提高讲座(1) 射线照相成像检验技术的细节识别理论

郑世才

细节识别理论是射线照相成像检验技术的缺陷检验基本理论。20世纪60年代初,部分研究人员分别建立了细节识别理论,给出了丝、圆柱孔、矩形缝及球孔细节的形状、尺寸、图像质量参数及技术因素间的关系。至今,这些关系式仍然是射线照相成像检验技术的缺陷检验基本理论。本文简要介绍了细节识别理论的基本情况。 (共6页)
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