无损探伤

2020年02期

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典型GIS设备的X射线数字检测技术研究

温力;齐文艳;管森森;程明;张应田;叶芳;李庆钊;李田;傅思伟;张迅达

应用X-DR技术对典型GIS设备在实验室进行了缺陷模拟及GIS设备实地检测,实现了GIS设备在不解体、不破坏条件下的可视化无损检测。试验表明,X-DR技术可以在现场GIS设备运行的情况下检测出缺陷。 (共2页)
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