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来源:《无损探伤》2020年第02期  作者:温力;齐文艳;管森森;程明;张应田;叶芳;李庆钊;李田;傅思伟;张迅达;
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典型GIS设备的X射线数字检测技术研究

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应用X-DR技术对典型GIS设备在实验室进行了缺陷模拟及GIS设备实地检测,实现了GIS设备在不解体、不破坏条件下的可视化无损检测。试验表明,X-DR技术可以在现场GIS设备运行的情况下检测出缺陷。(本文共计2页)......[继续阅读本文]

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