仪器仪表学报

2011年10期

本刊往期查看全部 >

基于平均值余量的Wrapper扫描链平衡算法

俞洋;陈叶富;彭宇

测试问题已成为SoC发展过程中的瓶颈,提出一种新的Wrapper扫描链平衡算法以期缩短IP核测试时间。算法首先计算Wrapper扫描链长度平均值,再结合特定的余量值,计算得到一个取值区间,记该区间为平均值余量;然后将IP核的内部扫描链按其长度降序排列,每次均将最长的内部扫描链添加到某条Wrapper扫描链上,直到该Wrapper扫描链长度在平均值余量所指定的区间内为止。以ITC'02 SoC Test Benchmarks内的所有测试集为对象完成的实验证明本算法能极其有效的通过扫描链平衡设计缩短IP核测试时间。 (共7页)
PDF全文下载

安装知网阅读App
手机 · Pad同步看

论文一键排版服务 >>
开通会员更优惠,尊享更多超值权益
立即开通 >